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最直接简单的例子，就是esd问题，当重要的信号走线靠近pcb板边，如没有处理，很容易被静电干扰，手机就会出现各种各样的问题…，
所以，拆开手机pcb板，就会发现pcb边的都去掉了绿油，露出了铜皮，这就是为了防止esd静电的问题
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完成手机的电子电路设计后，就下了就是整理手机的电子物料bom单子，供成本核算和电子物料准备
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台积电的手机基带芯片的样品回到公司后，就要立即进行测试了：
手机基带芯片放入ate仪器的测试台内的芯片插座后，打开仪器电源按钮，然后，确定ate仪器与对讲机芯片连接正常，再开始进行芯片测试，
ate对芯片测试基本的范围为：芯片引脚的连通性测试，芯片漏电流测试，芯片引脚测试，芯片功能测试，芯片esd静电测试，芯片老化测试（也就是芯片质量验证）
以及芯片稳定性测试，在温度（零下30度和高温50度）进行测试，确定芯片是否能正常工作…
先是手机基带芯片的引脚的连通性测试，芯片漏电流测试，测试，这是芯片测试的第一步，检测对讲机芯片的连通性是否正常，确定手机基带芯片的内部电路连通，芯片内部电路是否有缺陷。
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在对手机基带芯片测试的同时，手机整个电子电路的测试也要同步，由于手机pcb芯片上很多是bga芯片，所以，需要smt机器对手机进行贴片，
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手机基带芯片功能测试合格后，还要需要老化测试范围包括：温度，环境，电压，跌落…，例如电压测试：加速的方式进行测试，把温度突然提高到50度，外接的电压从正常工作电压3v突然提高到9v，进行长达3小时，甚至20小时或者30小时的老化测试，
如果没有任何的芯片和电子电路出现问题，那么，测试合格...。